-- Para controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controle de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
9031.41.00 - -- Para controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controle de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)