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- Seção XVII.I
- Capítulo 90
- Posição 9030
- Sub-posição I 9030.8
- Sub-posição II 9030.82
Sub-posição II 9030.82
-- Para medida ou controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Detalhamento Sub-posição II
- 9030.8 - - Outros instrumentos e aparelhos:
- 9030.82 - -- Para medida ou controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
- 9030.82.10 - DE TESTES DE CIRCUITOS INTEGRADOS
- 9030.82.90 - OUTROS
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